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    手動探針臺的使用方式是怎樣的?
    時間:2022-05-24 19:03:24 閱讀:30 來源:創始人

      手動探針臺適用于芯片的科研分析、抽查測試等。廣泛應用于科研單位研發測試、高校教學運行、企業實驗室芯片失效分析等領域。通常用在研發測試階段,批量不是很大的狀況下,大批量重復測試推薦探卡。手動探針臺主要功能:搭配外接測試測半導體參數測試儀、示波器、柵分儀等外接測試源儀表,測量半導體器件的IV CV脈沖/動態IV等參數。那手動探針臺的使用方式是怎樣的?

      如何使用手動探針臺:

      1.將樣品裝入真空吸盤,打開真空閥的控制開關,使樣品安全牢固地吸附在吸盤上。

      2.使用卡盤X軸/Y軸控制旋鈕移動卡盤平臺,并在顯微鏡低倍物鏡下清晰地觀察樣品。

      3.使用卡盤X軸/Y軸控制旋鈕移動卡盤平臺,將待測樣品點移至顯微鏡。

      4.將顯微鏡切換到高倍物鏡,在高倍下找到要測量的點,然后微調顯微鏡焦點和樣品x-y,以清晰地調整圖像,測量點位于顯微鏡視野的中心。

      5.待測點的位置確定后,調整探頭底座的位置。探頭安裝好后,將探頭移動到靠近待測點的位置,然后使用探頭底座的三個微調旋鈕X-Y-Z將探頭緩慢移動到待測點。此時要小心慢行,防止芯片運動過度受傷。當探頭尖端懸在被測點上方時,可以先用Y軸旋鈕將探頭向后移一點,然后再用Z軸旋鈕。

      6.在確保針尖與被測點接觸良好后,可以通過連接的測試設備開始測試。

      探針臺應放置在堅固穩定的工作臺上。如果有震動的情況,就要配置主動防震裝置,避免在高溫、潮濕、震動劇烈、陽光直射、灰塵多的環境中使用。

      以上就是關于手動探針臺使用方法的介紹,大家在實際操作時,應按照正確的步驟進行。


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